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内校分析天平

描述:JA403T内校分析天平可广泛应用于教育、纺织等领域。此系列天平体积小巧,灵敏度高还带有防尘盖,可保护天平受污及称量过程中气流对天平影响,以稳定称量结果。
更新时间:2024-07-16
产品型号:JA403T
所在城市:上海市
厂商性质:生产厂家
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